MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀用于測量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）：

• 鋼鐵基體上的非磁性覆層

• 有色金屬上的絕緣覆層

• 絕緣基體上的有色金屬覆層

所有型號均可配所有探頭；

可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；

可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)

 MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀功能 

MINITEST 2100存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))            1           

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值)  1

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)           1           

數(shù)據(jù)總量              10000           

MINITEST2100統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar              √          

顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間           √          

其他功能

透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)            √          

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)              √          

利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)           √          

外設(shè)的讀值傳輸存儲功能           √          

保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置               √          

更換電池是存儲數(shù)值               √          

公英制轉(zhuǎn)換                         √             

浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送           √          

組內(nèi)單值延遲顯示                     √           

連續(xù)測量模式中顯示zui小值              √          

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)：

在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。

N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。

CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MINITEST 2100 EPK涂鍍層測厚儀探頭圖示

FN1.6

0～1600μm,φ5mm

兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0～1600μm,φ30mm

兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05

0～500μm,φ3mm

磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等

量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3

0～3000μm,φ5mm

磁性測頭

可用于較厚的覆層

F1.6/90

0～1600μm,φ5mm

90度磁性測頭

尤其適合于在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10

0～10mm,φ20mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20

0～20mm,φ40mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50

0～50mm,φ300mm

適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02

0～200μm,φ2mm

非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr

0～80μm,φ2mm

適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6

0～1600μm,φ2mm

非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90

0～1600μm,φ5mm

磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層

尤其適合在管內(nèi)壁測量

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10

0～10mm,φ50mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20

0～20mm,φ70mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100

0～100mm,200mm

非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02

10～200μm,φ7mm

用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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